HMILU厂家现货晶振3225-4pin翻盖探针老化测试座

3.2*2.5-4PIN晶振探针老化座

产品简介

A、产品用途:老化座、测试座，对3225（3.2*2.5）的IC芯片进行高低温老化测试

B、适用封装: 3225(3.2*2.5)-4PIN晶振探针老化座

C、采用双触点技术，接触更稳定、体积小。

D、采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长、阻抗小、弹性好

E、镀金层加厚，触点加厚电镀，**低接触阻抗、高可靠度，使用寿命（翻盖结构20000次）

F、我司可提供规格书（布板图）资料，PDF档\CAD

规格尺寸

A、型号: 3225（3.2*2.5）-4PIN

B、脚位:4

C、芯片尺寸:3.2*2.5